Testing&Control Панельная сессия АРАТ «Контроль качества в аддитивных технологиях: современные метрологические решения»

Описание мероприятия

Ключевые вопросы для обсуждения:
1. Современные подходы к метрологическому сопровождению АТ.
2. Обеспечение прослеживаемости измерений в аддитивных технологиях.
3. Оценка неопределенности измерений при контроле изделий АТ.
4. Калибровка и поверка оборудования для аддитивного производства.
5. Роль 3D-сканирования в обеспечении качества изделий аддитивного производства

Модератор:
Оспенникова Ольга Геннадиевна – исполнительный директор Ассоциации развития аддитивных технологий, Вице-президент по развитию неядерных продуктов и технологий АО «ТВЭЛ», д.т.н.

Приглашенные спикеры:
1. Кавелашвили Илья Владимирович- генеральный директор ООО «РосАТ».
2. Орлов Виктор Валерьевич – генеральный директор АО «НПО «ЦНИИТМАШ».
3. Бакрадзе Михаил Михайлович – заместитель директора по химическим и материаловедческим исследованиям и технологиям НИЦ Курчатовский институт.
4. Дуб Алексей Владимирович – первый заместитель генерального директора, АО "Росатом Наука".
5. Будкин Юрий Валерьевич – советник генерального директора Российского института стандартизации.
6. Неруш Святослав Васильевич – начальник НИО, НИЦ «Курчатовский институт» – ВИАМ.
7. Екимов Дмитрий – главный метролог ООО «АЙ 3Д Группа».
8. Пряхин Владимир Сергеевич – соучредитель компании «Форта». Тема: «Промышленная компьютерная томография как метод исследования и анализа в аддитивном производстве».